三种常用镀层测厚仪的比较
2015/9/30 9:48:50 点击:
1. 电解测厚仪广泛用于电镀层厚度测量的场合
优点:不受基材材质的限制,可为金属、非金属、钕铁硼等
基本不受尺寸大小的限制,通常配备不同的测试头即可解决,
可测极细的线材,如直径0.1mm 线材
可测多层镍电位差
可测多镀层,如塑胶上镀铜再镀镍最后镀铬
价位低,经济实惠,常规机型不会超过1 万元
缺点:破坏性测量,工件表面会腐蚀直径 2.4mm 的小点
2. 磁性测厚仪只能胜任部分钢铁基材上镀层厚度的测量:在镀层测量应用中,通常用来测
镀锌层及硬铬层的厚度
优点:无损、快速
价位低、经济实惠
缺点:只能测大工件,镀层厚度小于 10um,测试很不稳定
实际上测硬铬还可以,测其他镀层已无实际意义
只能测单镀层
3. X-Ray 荧光测厚仪能完成各种镀层的测量
优点:无损、快速
缺点:不能测细小的线材上镀层厚度
不能测多层镍电位差
厚度大于 30um 镀层测不了
价位高,国产也得 10 来万
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